[입고] TD 검사기 C 값 납땜 공정 프로그램
1. 프로그램 개요
| 항목 | 내용 |
|---|---|
| 프로그램 명 | TDTestExecutor |
| 실행 파일 명 | DUALSONIC TD Select Tester.exe |
| 설치 위치 | 9층 입구 정면 (수입 검사용), 6층 공장 입구 오른쪽 안쪽 (납땜 공정용) |
| 용도 | Transducer(TD)의 검사 및 납땜 전 전류값 측정, 기준 등급(C값) 결정 및 PCB 정보 기록 |
2. 프로그램 UI
| 품질 화면 | 생산1 화면 |
|---|---|
 |
 |
| 생산3 화면 | 설정 화면 |
|---|---|
 |
 |
3. 기능 요약
| 기능 | 설명 |
|---|---|
| 검사 모드 선택 | 품질 / 생산1 / 생산3 등 검사 목적에 따라 라디오 버튼으로 모드 분기 |
| TD 측정 | 시리얼 넘버 입력 → 스코프 설정 → 전류값 측정 → 등급(C값) 판정 |
| C값 계산 및 등급 판정 | 측정된 전류값(R1~R10) 중 최대값 기준 등급: pro > lux > eye |
| DB 저장 | 측정 결과를 MES(NAS) 서버에 업로드: 결과, 측정값, 기준값 등 포함 |
| 설정 저장 기능 | 검사 기준값 및 장비 설정을 config 파일 및 DB에 저장 |
| 시리얼 통신 | 장비 및 릴레이 제어: CLS 명령어, 주파수 세팅, 릴레이 on/off, 측정 요청 등 |
● 모드 1번: 품질 수입 검사 (IQC)
RunProcessIQC()→MeasureTime()→RunMeasure()→"Judgment start"- 측정 후, 최대 전류값 → 등급 비교 → DB 저장 (MES : TD 측정 결과 저장[transducers]/ NAS: TD 측정 정보 저장[jomtCartridgeTbl], 오늘 측정 TD 수량 저장[jomtMES_IQCTbl])
● 모드 2번: 생산 1 PD1
RunCartInfoReadPD1()- 이미 저장된 측정값을 읽어오고, 색상별로 전류값을 구분해서 표시
- 별도 측정 없이 정보 확인 및 저장 위주 [jomtCartridgeTbl]에서 시리얼넘버로 TD정보, IQC 검사 결과 가져오기
● 모드 3번: 생산 3 PD3
RunProcessPD3()- 생산 과정 중 설정값 확인, 릴레이 설정, 모드 정보 등 포함
- 별도 측정 없이 정보 확인 및 저장 위주 [jomtCartridgeTbl]에서 시리얼넘버로 TD정보, IQC 검사 결과 가져오기
→ 용도는 다르지만 구조는 비슷하게 RunProcess()에서 분기 처리
4. 검사 순서 흐름
[프로그램 실행]
↓
[frmTD_JIG_Load()]
→ Config 파일 로딩, 스코프 초기화, DB 연결
↓
[로그인 및 검사 모드 선택]
↓
[시리얼 넘버(S/N) 입력]
↓
[RunProcess() 호출]
→ LoadDB() → ResetRegMeasure() → LoadRegTD()
↓
[스코프 설정 / 주파수 설정 / 릴레이 설정]
↓
[더미샷 → 측정샷]
↓
[RunMeasure()] → 측정값 반환
↓
[Judgment start] → 측정값 분석 → 등급 판단 (pro/lux/eye)
↓
[DB 저장]
→ MES: 측정 결과 등록
→ NAS: 측정 정보 저장
→ 오늘 측정 수량 업데이트
5. DB
(1) MES DB (transducers)
| 항목 | 변수명 | 예시 |
|---|---|---|
| 지그 번호 | jig_num |
1 |
| 측정일 | test_date |
2025-05-21 |
| 측정시간 | test_time |
16:12:23 |
| TD 시리얼번호 | td_serial |
J124300004 |
| 주파수 | td_freq |
7070 |
| 임피던스 | td_imp |
108.2 |
| 합불 판정 | test_result |
합격 |
| 등급 | td_grade |
PRO |
| 측정 C값 | td_c |
82 |
(2) NAS DB (jomtCartridgeTbl, jomtMES_IQCTbl, jomtMES_PD1Tbl)
[IQC 초기 등록] LoadRegTD() (SELECT)
PV_Date,PV_Frequency,PV_Impedance,PV_Capacitance,PV_Resistance,TestStep
[IQC 결과 저장] UploadDB_IQC() (UPDATE)
QC_LastDate,TestStep = 11,QC_Frequency,QC_Current,QC_Capacitor,QC_Grade,QC_R1Value~R10Value,QC_Date,QC_Time
[PD1 값 읽기] RunCartInfoReadPD1() (SELECT)
TestStep,QC_Grade,QC_Capacitor
[PD1 결과 저장] UploadDB_PD1() (UPDATE)
TestStep = 21 or 31,P1_Frequency,P1_Model,P1_CartType,P1_Date,P1_Time또는P0_Model,P0_Type,P0_Date,P0_Time
[IQC 수량 저장] UploadCntDB_IQC() (UPDATE)
IQC_TotalCnt,IQC_OkCnt,IQC_NgCnt,IQC_ProCnt,IQC_LuxCnt,IQC_EyeCnt,IQC_R1Cnt~R10Cnt,IQC_ReTotalCnt,IQC_ReOkCnt,IQC_ReNgCnt
[PD1 수량 저장] UploadCntDB_PD1() (UPDATE)
PD1_TotalCnt,PD1_OkCnt,PD1_NgCnt,PD1_ProCnt,PD1_LuxCnt,PD1_EyeCnt,PD1_MAXCnt,PD1_R1Cnt~R10Cnt
📎 기타 참고 자료 (흐름도)
flowchart TD
A[프로그램 실행] --> B[사용자 설정]
B --> C[frmLogin_Load]
C --> D[사용자 인증 후 설정 진입]
D --> E[RunProcess 호출]
%% 1. IQC 검사 흐름
E --> F1[모드 1: IQC T/D 수입 검사]
F1 --> F2[시리얼번호 스캔 → 측정 시작]
F2 --> F3[TD 정보 로드]
F3 --> F4[ runbeep1 삐 소리 내기]
F4 --> F5[장비 상태 클리어 CLS]
F5 --> F6{측정 유형}
F6 -->|더미샷| F6a[SetFrequency]
F6a --> F6b[SetRelay 1,1]
F6b --> F6c[단일 측정 :Single]
F6c --> F6d[RunShot]
F6d --> F6e[RunMeasure]
F6 -->|측정샷| F6f[SetFrequency]
F6f --> F6g[SetRelay Relay_C,1]
F6g --> F6h[단일 측정:Single]
F6h --> F6i[RunShot]
F6i --> F6j[RunMeasure]
F6j --> F6k[측정값 분석<br>Judgment start]
F6k --> F6l[최대값 저장 및 등급 결정]
F6l --> F7[DB 저장]
F7 --> F7a[→ MES transducers]
F7 --> F7b[→ NAS jomtCartridgeTbl]
F7 --> F7c[→ NAS jomtMES_IQCTbl]
%% 2. PD1 공정
E --> G1[모드 2: 캐패시터 값 확인]
G1 --> G2[TD 정보 로드 LoadRegTD]
G2 --> G3[RunProcessPD1]
G3 --> G4[RunCartInfoReadPD1]
G4 --> G5[RELAY 별 최대 전류값 → 색상 표시]
G5 --> G6[보드 장착 수량 계산 후 DB 저장]
%% 3. PD2 (미사용)
E --> H1[모드 3: PD2 카트리지 조립 성능검사]
H1 --> H2[현재 미사용 주석처리]
%% 4. 도트 검사
E --> I1[모드 4: 도트 검사]
I1 --> I2[TD 정보 로드< LoadRegTD]
I2 --> I3[RunCartInfoReadPD3]
I3 --> I4[RunProcessPD3]
I4 --> I5[SetRelay Cnt, 1]
%% 종료
F7c --> Z[종료 버튼 클릭 → 종료]
G6 --> Z
I5 --> Z