DUALSONIC_Multy_Function_Tester 금일 측정 수량 오류 #3

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kje97 · 2025-07-01T09:18:21+09:00

kje97 commented

2025-07-01 09:18:21 +09:00

1. 요구사항

생산2 모드(RF Test) 에서 불량 발생 시, 불량 수량이 업데이트되지 않음
재검사 시(기합격 후 불량 발생 → 재조립 후 재검사한 경우),
측정 수량 / 합격 수량 / 불량 수량이 모두 업데이트되지 않음

2. 원인 분석

1. `RFReCount()` 함수 로직 오류

RF 테스트 결과를 기반으로 판정해야 하나, HF 테스트 결과로 상태를 체크하고 있음
➤ RF 테스트 결과 기준으로 상태 판단 및 카운트 수행 필요

2. `TDCompare()` 함수의 날짜 조건 부족

재검사 시 과거 모든 검사 이력(HF/RF 포함)을 기준으로 수량 판단함
➤ 금일 테스트 이력만 카운트 기준이 되어야 하나, 날짜 조건이 누락되어 있음

3. 수정 방향

1. `RFReCount()` 함수 수정

검사 결과 판단 시 RF 검사 결과(txbRFresult)를 기준으로 처리
재검사(중복 측정) 시 이전 상태와 비교하여 수량 증감 처리
예시:
- 이전 실패 → 현재 성공: 불량 -1, 합격 +1
- 이전 성공 → 현재 실패: 합격 -1, 불량 +1

2. `TDCompare()` 함수 수정

검사 이력 체크 시, 금일 날짜 조건 추가
SQL 쿼리에 다음 조건 추가:

AND DATE(TestDate) = CURDATE()

4. 작업 내역 및 수정 내용

1️⃣ 테스트 불합격 시 기기 전원이 꺼지지 않던 문제 수정

문제: 불합격 후 재테스트를 위해 전원이 바로 꺼지지 않음
조치: InitializeDeviceState() + Jig_End() + ForceJigShutdown() 로직 추가하여 불합격 시 즉시 전원 차단

→ ForceJigShutdown() 함수에서 [endmft] 명령 전송 후 시리얼 포트 재연결 처리

2️⃣ RF 테스트 불량 발생 시 불량 수량 미카운트 문제

문제: RFReCount() 함수가 RF 불량을 HF 기준으로 판별
원인: TDDataSet(TestStep) 값이 HF 결과를 보고 있어 오작동
조치: processNum과 비교하여 RF 기준으로 수정
기능 동작 요약:

If dupDATA = 0 Then
    ' 신규 테스트
    오늘 수량 +1, 결과에 따라 합격/불량 +1
Else
    ' 중복 테스트 (재테스트)
    기존 실패 → 성공: 불량 -1, 합격 +1
    기존 성공 → 실패: 합격 -1, 불량 +1

목표:
- 오늘 수량 = 최초 테스트 개수
- 합격/불량 = 최종 결과 기준 (재검사 반영)

3️⃣ 재검사 시 수량 누락 문제 (모드 무관)

문제:

재검사하는 경우(이미 테스트 합격하여 생산 진행되었다가 불량 발생하여 다시 재조립한 후 테스트 공정을 다시 거치는 경우) 측정수량, 합격수량, 불량수량이 업데이트되지 않음
금일 테스트한 이력을 기준으로 카운트를 업데이트해야 하는데, RF 검사 결과, HF 검사 결과 이전 이력 모두를 대상으로 카운트를 하는 오류 발생

원인:

TDCompare() 함수에서 금일 테스트한 이력이 있는지 체크하지 않음
중복 체크 쿼리에 날짜 조건이 없어서 과거 이력까지 포함하여 dupDATA > 0이 되면서 재검사로 인식

수정:

쿼리에 AND DATE(TestDate) = CURDATE() 조건 추가하여 금일 테스트 이력만 체크

DBCmd = "SELECT COUNT(PV_SN) FROM " & tableName(i) & _
        " WHERE PV_SN = '" & TestData.Test_Serial & "'" & _
        " AND DATE(TestDate) = CURDATE()"

결과:

재조립 후 재검사 시 오늘 검사 이력이 없으므로 dupDATA = 0으로 처리
금일 새로운 검사로 인식하여 측정수량, 합격/불합격 수량이 정상 카운트됨
오늘 테스트한 이력만 기준으로 수량 카운트 → 정확한 일별 통계 반영

⚠️ 추가 문제 원인 및 수정 결과 1 (생산 2 - RF모드)

추가 문제 원인: 수량 카운트 미반영 현상 발생
- 카운트 증가 안해서 → 재수정 필요
- RF 테스트 결과를 기준으로 로직 수정하였으나, 카운트는 여전히 업데이트되지 않음
추가 확인 결과 : 테스트 실패 시 저장/카운트 업데이트 로직(CountChanage)이 실행되지 않음
- ProcessEnd 블록은 호출되지만, 그 내부에서 조건 분기에 따라 Jig_End()호출
- 전체 데이터 저장 프로세스: PostgreSQL → DB → Count → CSV 순서로 모든 단계 실행 할수 있도록 추가
- 모든 테스트 통과 시 → GoTo RunSuccess → 내부에서 합격 처리 완료 후 → GoTo NormalEnd (정상 종료로 이동) 하도록 수정
수정: ProcessEnd 블록에 저장 프로세스 로직 추가
결과화면:

합격 화면	불합격 화면

기존 마스터 제품으로 확인 진행
- 금일 기준 테스트 이력이 없어 최초 측정 시 → 측정수량 +1
- 이후 테스트 2회 진행 결과:
  - 합격: 1회
  - 불합격: 1회
- 총 측정수량: 2개로 정상 반영됨

⚠️ 추가 문제 원인 및 수정 결과 2 (생산 1 - HF/정보입력 모드)

문제 원인
- RF 모드는 정상 동작
- HIFU/정보입력 모드에서 MySQL Duplicate Entry (PV_SN) 오류 발생 → DB 저장 실패 → 수량 카운트 미반영
원인 확인 및 조치
- 기존 INSERT 로직에서 중복 시 오류 발생 → 저장 중단됨
- → SELECT COUNT(*) 쿼리 추가로 중복 시 UPDATE, 없으면 INSERT 처리로 변경
- 저장 로직 정상이후에도 Goto 흐름 문제로 저장/카운트 중복 실행 또는 누락 발생
- → Goto NormalEnd를 명확히 분기하여 중복 실행 방지 및 로직 안정화
결과 화면 :

합격 화면	불합격 화면

테스트 결과
- 하나의 시리얼 번호로 합격/불합격 전환 테스트
  - 최초 저장: 금일 기준 측정수량 +1 증가
  - 이후 동일 SN으로 합격/불합격 반복 시 → 추가 증가 없이 +1/-1

공정 진행시 카운트 확인 완료(7/17 확인)

7월 16일자 RF공정시 불량 카운트 2개 DB jomtMES_PD1Tbl 동일

## 1. 요구사항 * **생산2 모드(RF Test)** 에서 불량 발생 시, **불량 수량이 업데이트되지 않음** * **재검사 시**(기합격 후 불량 발생 → 재조립 후 재검사한 경우), **측정 수량 / 합격 수량 / 불량 수량이 모두 업데이트되지 않음** <img width="527" alt="그림1.png" src="attachments/44037441-a81d-4728-a572-11f7998af94c"> --- ## 2. 원인 분석 #### 1. `RFReCount()` 함수 로직 오류 * RF 테스트 결과를 기반으로 판정해야 하나, **HF 테스트 결과로 상태를 체크**하고 있음 * ➤ **RF 테스트 결과 기준으로 상태 판단 및 카운트 수행** 필요 #### 2. `TDCompare()` 함수의 날짜 조건 부족 * 재검사 시 **과거 모든 검사 이력(HF/RF 포함)을 기준으로 수량 판단**함 * ➤ **금일 테스트 이력만** 카운트 기준이 되어야 하나, **날짜 조건이 누락**되어 있음 --- ## 3. 수정 방향 #### 1. `RFReCount()` 함수 수정 * 검사 결과 판단 시 **RF 검사 결과(`txbRFresult`)를 기준**으로 처리 * 재검사(중복 측정) 시 이전 상태와 비교하여 수량 증감 처리 예시: * 이전 실패 → 현재 성공: 불량 -1, 합격 +1 * 이전 성공 → 현재 실패: 합격 -1, 불량 +1 #### 2. `TDCompare()` 함수 수정 * 검사 이력 체크 시, **금일 날짜 조건 추가** * SQL 쿼리에 다음 조건 추가: ```sql AND DATE(TestDate) = CURDATE() ``` --- ## 4. 작업 내역 및 수정 내용 ### 1️⃣ 테스트 불합격 시 기기 전원이 꺼지지 않던 문제 수정 * **문제:** 불합격 후 재테스트를 위해 전원이 바로 꺼지지 않음 * **조치:** `InitializeDeviceState()` + `Jig_End()` + `ForceJigShutdown()` 로직 추가하여 불합격 시 **즉시 전원 차단** → `ForceJigShutdown()` 함수에서 `[endmft]` 명령 전송 후 시리얼 포트 재연결 처리 ### 2️⃣ RF 테스트 불량 발생 시 불량 수량 미카운트 문제 * **문제:** `RFReCount()` 함수가 RF 불량을 **HF 기준**으로 판별 * **원인:** `TDDataSet(TestStep)` 값이 HF 결과를 보고 있어 오작동 * **조치:** `processNum`과 비교하여 RF 기준으로 수정 * **기능 동작 요약:** ```vbnet If dupDATA = 0 Then ' 신규 테스트 오늘 수량 +1, 결과에 따라 합격/불량 +1 Else ' 중복 테스트 (재테스트) 기존 실패 → 성공: 불량 -1, 합격 +1 기존 성공 → 실패: 합격 -1, 불량 +1 ``` * **목표:** * 오늘 수량 = 최초 테스트 개수 * 합격/불량 = 최종 결과 기준 (재검사 반영) ### 3️⃣ 재검사 시 수량 누락 문제 (모드 무관) **문제:** - 재검사하는 경우(이미 테스트 합격하여 생산 진행되었다가 불량 발생하여 다시 재조립한 후 테스트 공정을 다시 거치는 경우) 측정수량, 합격수량, 불량수량이 업데이트되지 않음 - 금일 테스트한 이력을 기준으로 카운트를 업데이트해야 하는데, RF 검사 결과, HF 검사 결과 이전 이력 모두를 대상으로 카운트를 하는 오류 발생 **원인:** - `TDCompare()` 함수에서 금일 테스트한 이력이 있는지 체크하지 않음 - 중복 체크 쿼리에 날짜 조건이 없어서 과거 이력까지 포함하여 `dupDATA > 0`이 되면서 재검사로 인식 **수정:** - 쿼리에 `AND DATE(TestDate) = CURDATE()` 조건 추가하여 금일 테스트 이력만 체크 ```vbnet DBCmd = "SELECT COUNT(PV_SN) FROM " & tableName(i) & _ " WHERE PV_SN = '" & TestData.Test_Serial & "'" & _ " AND DATE(TestDate) = CURDATE()" ``` **결과:** - 재조립 후 재검사 시 오늘 검사 이력이 없으므로 `dupDATA = 0`으로 처리 - 금일 새로운 검사로 인식하여 측정수량, 합격/불합격 수량이 정상 카운트됨 - 오늘 테스트한 이력만 기준으로 수량 카운트 → 정확한 일별 통계 반영 --- ### ⚠️ 추가 문제 원인 및 수정 결과 1 (생산 2 - RF모드) - **추가 문제 원인: 수량 카운트 미반영 현상 발생** - 카운트 증가 안해서 → 재수정 필요 - `RF 테스트 결과`를 기준으로 **로직 수정하였으나**, 카운트는 여전히 업데이트되지 않음 - **추가 확인 결과** : **테스트 실패 시 저장/카운트 업데이트 로직**(`CountChanage`)이 실행되지 않음 - `ProcessEnd` 블록은 호출되지만, 그 내부에서 조건 분기에 따라 **Jig_End()호출** - **전체 데이터 저장 프로세스**: PostgreSQL → DB → Count → CSV 순서로 모든 단계 실행 할수 있도록 추가 - **모든 테스트 통과 시** → GoTo RunSuccess → 내부에서 **합격 처리 완료 후 → GoTo NormalEnd** (정상 종료로 이동) 하도록 수정 - **수정**: ProcessEnd 블록에 저장 프로세스 로직 추가 - **결과화면**: | 합격 화면 | 불합격 화면 | | ------------------------ | --------------------------- | | ![그림111.png](/attachments/c6b6e4a9-9004-4961-87e4-292536df1922)|![그림22222.png](/attachments/c79468fc-80a6-4a3b-98ab-9b8e490b0922)| - **기존 마스터 제품으로 확인 진행** - 금일 기준 **테스트 이력이 없어 최초 측정 시 → 측정수량 +1** - 이후 테스트 2회 진행 결과: - **합격: 1회** - **불합격: 1회** - **총 측정수량: 2개**로 정상 반영됨 --- ### ⚠️ 추가 문제 원인 및 수정 결과 2 (생산 1 - HF/정보입력 모드) - **문제 원인** * *RF 모드*는 정상 동작 * *HIFU/정보입력 모드*에서 **MySQL Duplicate Entry (PV\_SN)** 오류 발생 → DB 저장 실패 → 수량 카운트 미반영 - **원인 확인 및 조치** * **기존 INSERT 로직**에서 중복 시 오류 발생 → 저장 중단됨 * → `SELECT COUNT(*)` 쿼리 추가로 **중복 시 UPDATE, 없으면 INSERT** 처리로 변경 * 저장 로직 정상이후에도 **`Goto` 흐름 문제로 저장/카운트 중복 실행 또는 누락** 발생 * → `Goto NormalEnd`를 **명확히 분기**하여 **중복 실행 방지 및 로직 안정화** - **결과 화면** : | 합격 화면 | 불합격 화면 | | ------------------------ | --------------------------- | | <img width="1440" alt="캡처5.PNG" src="attachments/48920938-12d1-4e73-a573-f0b2a6b5d4c0">|<img width="1440" alt="캡처33.PNG" src="attachments/5d7df032-aa96-4b8a-aa37-0015daee6409">| - **테스트 결과** * **하나의 시리얼 번호로 합격/불합격 전환 테스트** * 최초 저장: 금일 기준 측정수량 **+1 증가** * 이후 동일 SN으로 합격/불합격 반복 시 → **추가 증가 없이 +1/-1** ### 공정 진행시 카운트 확인 완료(7/17 확인) #### 7월 16일자 RF공정시 불량 카운트 2개 DB jomtMES_PD1Tbl 동일 <img width="749" alt="image.png" src="attachments/b9390cdd-24d3-42d5-865f-a12d2f93c65a">

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